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綜合量測

首頁 產(chǎn)品與技術(shù) 測試系統(tǒng)

LabExpress

靈活易用電性參數(shù)測試軟件

參數(shù)測試 自動化測試 數(shù)據(jù)分析與管理

LabExpress?電性參數(shù)測試軟件是針對半導(dǎo)體器件研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)境中的電性參數(shù)測試應(yīng)用而設(shè)計的一款專業(yè)工具。

  • 用戶友好的圖形界面，簡單直觀，復(fù)雜設(shè)定一步直達(dá)，關(guān)鍵信息一覽無余，支持多窗口測試數(shù)據(jù)合圖對比。

  •  支持廣泛的測試設(shè)備，默認(rèn)支持概倫的全系列測試儀器以及完整功能，還可以控制多種型號的探針臺、矩陣開關(guān)和第三方測試設(shè)備進(jìn)行自動測試。

  • 集成了完整的測試算法，滿足DC、Pulse、CV、瞬態(tài)時域采樣、任意波形發(fā)生、噪聲、RF參數(shù)測試、可靠性測試、各類型的曲線掃描和點(diǎn)參數(shù)測試等應(yīng)用需要。

  • 具備強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析能力，內(nèi)置多種數(shù)學(xué)計算公式，支持即時數(shù)據(jù)處理， 支持疊加分析和一鍵變換測試分析圖像，支持圖像上的距離、斜率、相關(guān)系數(shù)測量。

  • 支持晶圓級數(shù)據(jù)與海量設(shè)定管理，支持晶圓映射與測試計劃創(chuàng)建，測試工程數(shù)據(jù)庫保存，晶圓級數(shù)據(jù)隨時調(diào)用。

  • 內(nèi)置腳本化編程平臺，支持自定義測試算法、靈活的測試流程和復(fù)雜的數(shù)學(xué)計算分析。

下載產(chǎn)品單頁

產(chǎn)品亮點(diǎn)

  • 直觀易用

    圖形化界面直觀便捷
    復(fù)雜設(shè)定一步直達(dá)
    關(guān)鍵信息一覽無余

  • 功能強(qiáng)大

    完整的待測器件類型
    豐富的內(nèi)置測試算法

  • 廣泛支持

    支持概倫全系列測試儀器
    以及完整功能
    支持主流探針臺、矩陣開關(guān)
    和第三方測試設(shè)備

  • 數(shù)據(jù)分析

    內(nèi)置多種數(shù)學(xué)計算公式
    即時數(shù)據(jù)處理
    圖像變換與疊加分析
    距離、斜率等圖像上測量

  • 晶圓級測試

    支持晶圓映射與測試計劃創(chuàng)建
    支持晶圓級數(shù)據(jù)分析、
    管理、保存和隨時調(diào)用

  • 自定義擴(kuò)展

    內(nèi)置腳本化編程平臺
    支持自定義測試算法
    支持靈活的測試流程
    和復(fù)雜數(shù)學(xué)計算分析

產(chǎn)品應(yīng)用

  • 晶圓級
    電性參數(shù)測試

  • 模型電學(xué)特性
    曲線測試

  • 晶圓級
    可靠性測試

  • 高吞吐量
    自動化測試

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