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參數(shù)化測(cè)試

首頁(yè) 產(chǎn)品與技術(shù) 測(cè)試系統(tǒng)

FS-Pro

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

參數(shù)測(cè)試 可靠性測(cè)試 快速脈沖測(cè)試

FS-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備。

  • 在一個(gè)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了電流電壓(IV)測(cè)試、電容電壓(CV)測(cè)試、脈沖式IV測(cè)試、任意線性波形發(fā)生與測(cè)量、高速波形發(fā)生與釆集以及低頻噪聲測(cè)試能力，幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測(cè)試系統(tǒng)中完成。

  • 全面而強(qiáng)大的參數(shù)測(cè)試分析能力極大地加速了半導(dǎo)體器件與工藝的研發(fā)和評(píng)估進(jìn)程，并可與概倫9812系列噪聲測(cè)試系統(tǒng)無(wú)縫集成。

  • 釆用工業(yè)通用的PXI模塊化硬件架構(gòu)，系統(tǒng)配置靈活，擴(kuò)展性強(qiáng)。

  • 內(nèi)置專業(yè)測(cè)試軟件LabExpress提供豐富的測(cè)試預(yù)設(shè)和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理功能。

  • LabExpress軟件同時(shí)支持自動(dòng)化量測(cè)和并行量測(cè)，可進(jìn)一步提升測(cè)試效率。

  • 廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件、LED材料、二維材料器件、金屬材料、新型先進(jìn)材料與器件測(cè)試、器件可靠性等研究領(lǐng)域。

下載產(chǎn)品單頁(yè)

產(chǎn)品亮點(diǎn)

  • 一體化設(shè)備

    單機(jī)可采集高精度IV、CV、脈沖IV
    高速波形和瞬態(tài)IV采樣及1/f噪聲

  • 功能強(qiáng)大

    寬電壓電流輸出范圍、高精度
    支持高速采樣時(shí)域信號(hào)采集和任意線性波形生成

  • 廣受認(rèn)可

    被眾多科研院所、芯片設(shè)計(jì)公司和代工廠、
    IDM公司釆用，目前已有國(guó)內(nèi)外百余家客戶

  • 模塊化架構(gòu)

    支持靈活、可擴(kuò)展的
    測(cè)試配置

  • 簡(jiǎn)單易用

    內(nèi)置專業(yè)LabExpress測(cè)量控制分析軟件
    無(wú)需復(fù)雜編程可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析

  • 源表

    可用作981X系列內(nèi)部SMU模塊
    無(wú)縫集成到981X系列噪聲測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品應(yīng)用

  • 工藝制程研發(fā)與
    器件參數(shù)測(cè)試

  • 半導(dǎo)體器件
    可靠性測(cè)試

  • 半導(dǎo)體器件
    超短脈沖測(cè)試

  • 非易失性
    存儲(chǔ)器測(cè)試

  • 光電器件和
    微電子機(jī)械系統(tǒng)測(cè)試

  • 二維材料
    器件測(cè)試

  • 金屬材料
    測(cè)試

  • 新型先進(jìn)材料
    與器件測(cè)試

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