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概倫電子測試方案持續(xù)助力前沿學(xué)術(shù)研究

2020-11-18

在微電子、材料、物理等基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究中，半導(dǎo)體參數(shù)測試是非常重要的一環(huán)，但傳統(tǒng)參數(shù)測試儀器幾乎都為進(jìn)口產(chǎn)品，往往價格昂貴，軟件和測試功能單一，而且缺乏個性化定制。針對參數(shù)測試中IV，CV，低頻噪聲等測試需求，傳統(tǒng)的儀器體積大，成本高，在低頻噪聲測試的場合，需要依靠不同的獨立測試設(shè)備，連接復(fù)雜，使用不便。

概倫電子半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)FS-Pro?，集成高速高精度IV，CV和低頻噪聲測試于一體，在單臺儀器內(nèi)便可完成所有低頻測試。推出三年來，F(xiàn)S-Pro?已被國內(nèi)60多所大學(xué)及研究機構(gòu)所采用，在先進(jìn)器件和材料等領(lǐng)域的測試表現(xiàn)非常出色，其高精度、低成本、綜合的半導(dǎo)體器件表征分析能力靈活滿足學(xué)術(shù)科研用戶的不同測試需求，大大節(jié)省了測試設(shè)備的采購開支。尤其在二維材料光電探測器領(lǐng)域及有機探測器研發(fā)領(lǐng)域，獨特的1/f噪聲測試能力可獲得器件內(nèi)部的缺陷參數(shù)，更多地獲取了器件的深入技術(shù)的性能，尤其是在探測率的計算上，考慮到1/f噪聲因素在內(nèi)得出的探測率更為準(zhǔn)確。在器件的I-T測試表征上，FS-Pro?SMU出色能力已得到市場驗證，高達(dá)1us采樣率，數(shù)據(jù)存儲容量10萬個點，實現(xiàn)了業(yè)界SMU做I-T測試的最高指標(biāo)。它集成了所有常用低頻特性測量于一體，工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)PXI模塊化硬件結(jié)構(gòu)，通用的軟件平臺，內(nèi)置測量軟件提供數(shù)百個預(yù)定義的測試模板和功能，實現(xiàn)即插即用體驗，使其成為半導(dǎo)體器件與先進(jìn)材料研究方面的得力助手。

概倫電子測試產(chǎn)線一直致力于推動半導(dǎo)體相關(guān)領(lǐng)域高端學(xué)術(shù)研究，僅今年已支持9場學(xué)術(shù)交流活動。